Mit KI gegen Produktfehler - Die Zukunft der Qualitätssicherung

Nalbach, O., Linn, C. & Werth, D.(2018)
In: IM+io, 03/2018, S. 50-53

Link zur Publikation:
https://www.aws-institut.de/im-io/kuenstliche-intelligenz/mit-ki-gegen-produktfehler/

Abstract:

Produktqualität lässt sich in vielen Fällen objektiv messen und im Nachhinein kontrollieren, doch um Problematiken frühzeitig zu erkennen und zu beseitigen, sind heute oft noch manuelle Einschätzungen von Experten unabdingbar. Das macht Qualitätssicherung zeitaufwändig und teuer, sodass sie bisweilen auch vernachlässigt wird. Kunde und Unternehmen tragen dann die negativen Konsequenzen. Dass es mithilfe von neuen Technologien aus den Bereichen des maschinellen Lernens und der Künstlichen Intelligenz auch anders geht, zeigen in diesem Artikel die Autoren Oliver Nalbach, Christian Linn und Dirk Werth.